DFT(Design for Testability,可测试性设计)是一种在集成电路(IC)设计过程中使用的技术,旨在通过特定的设计技巧简化对芯片的测试,确保能够高效、准确地检测出制造过程中可能产生的缺陷。几乎所有的公司都会用JTAG来做DFT的验证,在ATE平台上,通过JTAG接口,将pattern向量通过JTAG接口打入chip,然后驱动chip内部的逻辑,并对chip进行验证。DFF是数字电路中的一种基本存储单元,用于存储一位二进制信息。它有两个主要的输入:数据输入D和时钟输入CLK,以及一个输出Q。